交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性 (機構デバイス)

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交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性

(機構デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024342486
資料種別
記事
著者
伊藤 大和ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-02-15
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(432):2013.2.15
掲載ページ
p.13-16
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
伊藤 大和
飯田 和生
澤田 滋 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Electrical Property of Tin Oxide Film Measured by Alternating Current Impedance Method
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
112(432):2013.2.15
掲載巻
112
掲載号
432