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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
112巻432号 2013年2月15日
記事
交流インピーダンス測...
交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性 (機構デバイス)
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交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性
(機構デバイス)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024342486
資料種別
記事
著者
伊藤 大和ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-02-15
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(432):2013.2.15
掲載ページ
p.13-16
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性
著者・編者
伊藤 大和
飯田 和生
澤田 滋 他
シリーズタイトル
機構デバイス
著者標目
伊藤 大和
飯田 和生
澤田 滋
並列タイトル等
Electrical Property of Tin Oxide Film Measured by Alternating Current Impedance Method
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
112(432):2013.2.15
掲載巻
112
掲載号
432
掲載ページ
13-16
掲載年月日(W3CDTF)
2013-02-15
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
コネクタ
接触抵抗
錫酸化皮膜
抵抗率
比誘電率
交流インピーダンス測定
Connector
Contact resistance
Tin Oxide Film
Resistivity
Dielectric Constant
Complex Impedance Measurement
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
EMD2012-105
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
024342486
http://id.ndl.go.jp/bib/024342486
整理区分コード
632
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