ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28)

• 資料種別: 記事
• タイトル: ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28)
• 著者・編者: 和田 真一; 越田 圭治; サインダー ノロブリン 他
• シリーズタイトル: 機構デバイス
• 著者標目: 和田 真一; 越田 圭治; サインダー ノロブリン
• 並列タイトル等: Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Hammering Oscillation Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillation mechanism(28)
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 113(126):2013.7.12
• 掲載巻: 113
• 掲載号: 126
• 掲載ページ: 1-6
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2013-07-12
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電気接点; 微小振動; 接触抵抗; 有効質量; 有効加振力; 有効加速度; 付加質量; ハンマリング加振機構; electrical contact; micro-oscillation; contact resistance; effective mass; effective force; effective acceleration; additional mass; hammering oscillation mechanism
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EMD2013-24
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024743378; http://id.ndl.go.jp/bib/024743378
• 整理区分コード: 632