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準静電界センシングによるLSI内部構造の評価

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準静電界センシングによるLSI内部構造の評価

国立国会図書館請求記号
Z74-E121
国立国会図書館書誌ID
024827418
資料種別
記事
著者
眞田 克ほか
出版者
土佐山田町 (高知県) : 高知工科大学
出版年
2013
資料形態
掲載誌名
高知工科大学紀要 = Research bulletin / 高知工科大学 編 10(1):2013
掲載ページ
p.113-120
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
眞田 克
伊藤 誠吾
並列タイトル等
Evaluation of LSI Inner Structure by Using Quasi-static Electrical Field Sensing Technology
タイトル(掲載誌)
高知工科大学紀要 = Research bulletin / 高知工科大学 編
巻号年月日等(掲載誌)
10(1):2013
掲載巻
10
掲載号
1
掲載ページ
113-120