超ワイドバス構造を有する三次元積層SiPの電源品質評価 (次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文特集)

超ワイドバス構造を有する三次元積層SiPの電源品質評価

(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文特集)

掲載誌名: 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会編 96(11)=551:2013.11

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 記事
タイトル: 超ワイドバス構造を有する三次元積層SiPの電源品質評価
著者・編者: 坂井篤
山田茂
苅谷隆他
シリーズタイトル: 次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文特集
著者標目: 坂井篤
山田茂
苅谷隆
並列タイトル等: PDN Characteristics of 3D-SiP with a 4,096 bits Wide-Bus Structure
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会編
巻号年月日等（掲載誌）: 96(11)=551:2013.11
掲載巻: 96
掲載号: 11
掲載通号: 551
掲載ページ: 344-351
掲載年月日（W3CDTF）: 2013-11
ISSN（掲載誌）: 1345-2827
ISSN-L（掲載誌）: 1345-2827
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: 三次元積層
SiP
TSV
電源品質
電源インピーダンス
同時スイッチングノイズ
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-607
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024977218
http://id.ndl.go.jp/bib/024977218
整理区分コード: 632