チュートリアル講演 アンテナ近傍界の測定による利得・パターンへの三種の変換法 : 標準的な近傍界測定法,振幅中心・パターン鋭さ係数による測定法,Kim法

• 資料種別: 記事
• タイトル: チュートリアル講演 アンテナ近傍界の測定による利得・パターンへの三種の変換法 : 標準的な近傍界測定法,振幅中心・パターン鋭さ係数による測定法,Kim法
• 著者・編者: 廣瀬 雅信
• シリーズタイトル: アンテナ・伝播
• 著者標目: 廣瀬 雅信
• 並列タイトル等: Three Methods to Obtain Antenna Gain and Pattern by Measuring the Antenna Near-Field : Conventional Near-Field Methods, A Method Using Amplitude Center and Pattern Sharpness Coefficient, and Kim Method
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 113(233):2013.10.3・4
• 掲載巻: 113
• 掲載号: 233
• 掲載ページ: 25-30
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2013-10
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 近傍界測定法; 振幅中心; 鋭さ係数; Kim法; Near-Field measurements; Amplitude center; Pattern sharpness coefficient; Kim method
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: A・P2013-91
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025003333; http://id.ndl.go.jp/bib/025003333
• 整理区分コード: 632