雑誌 電子資料研究報告
巻号(19):2013
シリコン基板上のアル...

シリコン基板上のアルミニウム薄膜における反射光を用いた到達温度の測定

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シリコン基板上のアルミニウム薄膜における反射光を用いた到達温度の測定

国立国会図書館請求記号
YH247-1350
国立国会図書館書誌ID
025133514
資料種別
記事
著者
三橋 雅彦ほか
出版者
海老名 : 神奈川県産業技術センター
出版年
2013
資料形態
デジタル
掲載誌名
研究報告 Reports of Kanagawa Industrial Technology Center / 神奈川県産業技術センター [編] (19):2013
掲載ページ
p.13-17
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
三橋 雅彦
田口 勇
小田代 健 他
並列タイトル等
Temperature Measurement by Reflected Light from Aluminum Thin Films on Silicon Substrates
タイトル(掲載誌)
研究報告 Reports of Kanagawa Industrial Technology Center / 神奈川県産業技術センター [編]
巻号年月日等(掲載誌)
(19):2013
掲載号
19
掲載ページ
13-17
掲載年月日(W3CDTF)
2013