Pd/ZnO極性界面のHRTEM・EELSに基づく構造評価と第一原理電子状態計算

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資料種別: 記事
タイトル: Pd/ZnO極性界面のHRTEM・EELSに基づく構造評価と第一原理電子状態計算
著者・編者: 坂口紀史
渡辺圭
國貞雄治
著者標目: 坂口紀史
渡辺圭
國貞雄治
並列タイトル等: HRTEM, EELS and Ab-initio Calculation in Atomic and Electronic Structures of Pd/ZnO Polar Interfaces
タイトル（掲載誌）: 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会編
巻号年月日等（掲載誌）: 48(3):2013
掲載巻: 48
掲載号: 3
掲載ページ: 195-200
掲載年月日（W3CDTF）: 2013
ISSN（掲載誌）: 1349-0958
ISSN-L（掲載誌）: 1349-0958
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本顕微鏡学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: 極性界面
終端原子
界面結合状態
電子状態密度
ELNES
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-896
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 025156218
http://id.ndl.go.jp/bib/025156218
整理区分コード: 632