FPGAにおけるオンチップ遅延測定について

• 資料種別: 記事
• タイトル: FPGAにおけるオンチップ遅延測定について
• 著者・編者: 安部 賢太朗; 三宅 庸資; 梶原 誠司 他
• シリーズタイトル: VLSI設計技術 ; デザインガイア2014 : VLSI設計の新しい大地
• 著者標目: 安部 賢太朗; 三宅 庸資; 梶原 誠司
• 並列タイトル等: On-chip delay measurement for FPGAs
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 114(328):2014.11.26-28
• 掲載巻: 114
• 掲載号: 328
• 掲載ページ: 245-250
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2014-11
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: FPGA; 自己テスト; 遅延測定; 可変テストタイミング; Built-In Self-Test; delay measurement; variable test-timing
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: VLD2014-109
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025983343; http://id.ndl.go.jp/bib/025983343
• 整理区分コード: 632