微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 微摺動に擬衝撃加振を加えることの効果

• 資料種別: 記事
• タイトル: 微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 微摺動に擬衝撃加振を加えることの効果
• 著者・編者: 和田 真一; 岩本 紘樹; 越田 圭治 他
• シリーズタイトル: 機構デバイス
• 著者標目: 和田 真一; 岩本 紘樹; 越田 圭治
• 並列タイトル等: Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism and a hammering oscillation mechanism : The effect of adding quasi-impulsive oscillation to micro-sliding
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 114(382):2014.12.19
• 掲載巻: 114
• 掲載号: 382
• 掲載ページ: 13-18
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2014-12-19
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電気接点; 微小振動; ハンマリング加振システム; 精密微摺動システム; 最小摺動振幅; 有効質量; 有効加速度; 最小衝撃加速度; electrical contact; micro-oscillation; hammering oscillation system; micro-sliding system; minimal sliding amplitude; effective mass; effective acceleration; minimal impulsive acceleration
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EMD2014-97
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026027822; http://id.ndl.go.jp/bib/026027822
• 整理区分コード: 632