中性子とX線回折法を...

中性子とX線回折法を含む多面的アプローチによるセラミック材料の結晶構造,電子密度分布とイオン拡散経路の研究 (特集 マルチプローブ研究が拓く構造研究の新時代 ; 構造物性分野におけるマルチプローブ研究)

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中性子とX線回折法を含む多面的アプローチによるセラミック材料の結晶構造,電子密度分布とイオン拡散経路の研究(特集 マルチプローブ研究が拓く構造研究の新時代 ; 構造物性分野におけるマルチプローブ研究)

国立国会図書館請求記号
Z15-138
国立国会図書館書誌ID
026218607
資料種別
記事
著者
八島 正知
出版者
東京 : 日本結晶学会
出版年
2015-02
資料形態
掲載誌名
日本結晶学会誌 = Journal of the Crystallographic Society of Japan 57(1):2015.2
掲載ページ
p.13-19
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
八島 正知
著者標目
並列タイトル等
Crystal Structure, Electron-Density Distribution and Ion-Diffusion Pathway of Ceramic Materials Investigated by Multiple Approaches Including Neutron and X-ray Diffraction Methods
タイトル(掲載誌)
日本結晶学会誌 = Journal of the Crystallographic Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
57(1):2015.2
掲載巻
57
掲載号
1