微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 : いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅

• 資料種別: 記事
• タイトル: 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 : いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅
• 著者・編者: 和田 真一; 越田 圭治; 久保田 洋彰 他
• シリーズタイトル: 信頼性
• 著者標目: 和田 真一; 越田 圭治; 久保田 洋彰
• 並列タイトル等: A method for evaluating degradation phenomenon of electrical contacts using micro-sliding mechanisms : Minimal sliding amplitudes against input waveforms under some conditions
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 114(456):2015.2.20
• 掲載巻: 114
• 掲載号: 456
• 掲載ページ: 13-20
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2015-02-20
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電気接点; 劣化機構; 微摺動機構; 最小摺動振幅; 入力波形; 接触摩擦力; 統計解析; electrical contact; degradation phenomenon; micro-sliding mechanism; minimal sliding amplitude; input waveform; contact friction; statistical analysis
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: R2014-73
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026247275; http://id.ndl.go.jp/bib/026247275
• 整理区分コード: 632