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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 筒井 哲夫宮口 敏吉岡 俊博
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Development of Evaluation Technology for Accelerated Lifetime Testing and Non-Destructive Analysis for Long-term Degradation in Organic Light-Emitting Diodes
- タイトル(掲載誌)
- 化学工学 = Chemical engineering of Japan
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 79(5):2015.5
- 掲載巻
- 79
- 掲載号
- 5