有機ELにおける長期...

有機ELにおける長期駆動寿命の予測手法の開発と材料劣化機構の解明 (特集 材料の長寿命化への取り組み)

記事を表すアイコン

有機ELにおける長期駆動寿命の予測手法の開発と材料劣化機構の解明

(特集 材料の長寿命化への取り組み)

国立国会図書館請求記号
Z17-53
国立国会図書館書誌ID
026419112
資料種別
記事
著者
筒井 哲夫ほか
出版者
東京 : 化学工学会
出版年
2015-05
資料形態
掲載誌名
化学工学 = Chemical engineering of Japan 79(5):2015.5
掲載ページ
p.384-386
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
筒井 哲夫
宮口 敏
吉岡 俊博
並列タイトル等
Development of Evaluation Technology for Accelerated Lifetime Testing and Non-Destructive Analysis for Long-term Degradation in Organic Light-Emitting Diodes
タイトル(掲載誌)
化学工学 = Chemical engineering of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
79(5):2015.5
掲載巻
79
掲載号
5