3D/2.5D-IC TSVに向けた低温成膜SiNxの特性評価 (特集 平成26年電子・情報・システム部門大会)

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3D/2.5D-IC TSVに向けた低温成膜SiNxの特性評価(特集 平成26年電子・情報・システム部門大会)

国立国会図書館請求記号
Z16-795
国立国会図書館書誌ID
026607692
資料種別
記事
著者
小林 靖志ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2015-07
資料形態
掲載誌名
電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems 135(7):2015.7
掲載ページ
p.733-738
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
小林 靖志
中田 義弘
中村 友二 他
並列タイトル等
Characterization of Low Temperature SiNx Films for 3D/2.5D-IC TSV
タイトル(掲載誌)
電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems
巻号年月日等(掲載誌)
135(7):2015.7
掲載巻
135
掲載号
7