X線回折法とX線マイクロアナライザを用いた紙中の石英含有量の分析

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資料種別: 記事
タイトル: X線回折法とX線マイクロアナライザを用いた紙中の石英含有量の分析
著者・編者: 武井俊達
立花和幸
八重田徹他
著者標目: 武井俊達
立花和幸
八重田徹
並列タイトル等: Analysis of Quartz Content in Paper Using X-ray Diffraction and X-ray Microanalyzer
タイトル（掲載誌）: 紙パ技協誌 = Japan TAPPI journal
巻号年月日等（掲載誌）: 69(11)=776:2015.11
掲載巻: 69
掲載号: 11
掲載通号: 776
掲載ページ: 1245-1256
掲載年月日（W3CDTF）: 2015-11
ISSN（掲載誌）: 0022-815X
ISSN-L（掲載誌）: 0022-815X
出版事項（掲載誌）: 東京 : 紙パルプ技術協会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: X-ray diffraction
Quartz
X-ray microanalyzer (XMA)
紙パルプ試験法一般
非塗工印刷用紙
NDLC: ZP19
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z17-76
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 026824943
http://id.ndl.go.jp/bib/026824943
整理区分コード: 632