Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (Electromechanical Devices)

Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions

(Electromechanical Devices)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 026984214

資料種別: 記事

著者: Shin-ichi Wadaほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2015-11

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(291):2015.11.5・6

掲載ページ: p.17-21

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書誌情報

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紙

資料種別: 記事
タイトル: Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions
著者・編者: Shin-ichi Wada
Keiji Koshida
Koichiro Sawa
シリーズタイトル: Electromechanical Devices
著者標目: Shin-ichi Wada
Keiji Koshida
Koichiro Sawa
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 115(291):2015.11.5・6
掲載巻: 115
掲載号: 291
掲載ページ: 17-21
掲載年月日（W3CDTF）: 2015-11
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: EMD2015-70
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 026984214
http://id.ndl.go.jp/bib/026984214
整理区分コード: 632