Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (Electromechanical Devices)

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Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions

(Electromechanical Devices)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
026984214
資料種別
記事
著者
Shin-ichi Wadaほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2015-11
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(291):2015.11.5・6
掲載ページ
p.17-21
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
Shin-ichi Wada
Keiji Koshida
Koichiro Sawa
シリーズタイトル
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
115(291):2015.11.5・6
掲載巻
115
掲載号
291
掲載ページ
17-21