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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
115(338):2015.12.1-3
記事
FPGAのオンチップ...
FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 (VLSI設計技術)
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FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討
(VLSI設計技術)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
027037004
資料種別
記事
著者
喜納 猛ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2015-12
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(338):2015.12.1-3
掲載ページ
p.165-170
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討
著者・編者
喜納 猛
三宅 庸資
佐藤 康夫 他
シリーズタイトル
VLSI設計技術
著者標目
喜納 猛
三宅 庸資
佐藤 康夫
並列タイトル等
On Correction of Temperature Influence to Delay Measurement in FPGAs
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
115(338):2015.12.1-3
掲載巻
115
掲載号
338
掲載ページ
165-170
掲載年月日(W3CDTF)
2015-12
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
FPGA
論理BIST
遅延測定
可変テストタイミング
Logic BIST
Delay measurement
Variable test timing
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
VLD2015-63
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
027037004
http://id.ndl.go.jp/bib/027037004
整理区分コード
632
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