X線回折法による少量...

X線回折法による少量サンプルの定性分析

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X線回折法による少量サンプルの定性分析

国立国会図書館請求記号
Z22-757
国立国会図書館書誌ID
027039855
資料種別
記事
著者
大毛 信吾ほか
出版者
小山 : 国立高等専門学校機構小山工業高等専門学校
出版年
2015-12
資料形態
掲載誌名
小山工業高等専門学校研究紀要 = Research reports of National Institute of Technology, Oyama College / 小山工業高等専門学校図書情報センター運営委員会 編 (48):2015.12
掲載ページ
p.129-134
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
大毛 信吾
渥美 太郎
出川 強志
並列タイトル等
Qualitative Analysis for Various Types of Small Samples by X-ray Diffractometry
タイトル(掲載誌)
小山工業高等専門学校研究紀要 = Research reports of National Institute of Technology, Oyama College / 小山工業高等専門学校図書情報センター運営委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
(48):2015.12
掲載号
48
掲載ページ
129-134
掲載年月日(W3CDTF)
2015-12