走査型白色干渉計を用...

走査型白色干渉計を用いた引張負荷下における微小構造体のひずみ分布測定 (特集 微細組織,組織制御,力学的性質に関する材料研究最前線)

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走査型白色干渉計を用いた引張負荷下における微小構造体のひずみ分布測定(特集 微細組織,組織制御,力学的性質に関する材料研究最前線)

国立国会図書館請求記号
Z17-314
国立国会図書館書誌ID
027051516
資料種別
記事
著者
伊東 孝史ほか
出版者
仙台 : 日本金属学会 ; 1937-
出版年
2016-01
資料形態
掲載誌名
日本金属学会誌 = The journal of the Japan Institute of Metals and Materials 80(1):2016.1
掲載ページ
p.22-26
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
伊東 孝史
峯 洋二
大津 雅亮 他
並列タイトル等
Strain Measurement of Micrometre-Sized Structures under Tensile Loading by Using Scanning White-Light Interferometry
タイトル(掲載誌)
日本金属学会誌 = The journal of the Japan Institute of Metals and Materials
巻号年月日等(掲載誌)
80(1):2016.1
掲載巻
80
掲載号
1