Quantitative Analysis of Trace Elements in Silicate Glass Sample by LA-ICP-QMS/QMS with an ORC : Silicon as the Matrix of Calibrating Solutions and the Internal Standard for Measurement

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CiNii Research

Quantitative Analysis of Trace Elements in Silicate Glass Sample by LA-ICP-QMS/QMS with an ORC : Silicon as the Matrix of Calibrating Solutions and the Internal Standard for Measurement

国立国会図書館請求記号: Z54-F482
国立国会図書館書誌ID: 027714080

資料種別: 記事

著者: Yanbei ZHU

出版者: Tokyo : Japan Society for Analytical Chemistry

出版年: 2016-11

資料形態: 紙

掲載誌名: Analytical Sciences 32(11)=294(Special Issue):2016.11

掲載ページ: p.1237-1243

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紙デジタル

資料種別: 記事
タイトル: Quantitative Analysis of Trace Elements in Silicate Glass Sample by LA-ICP-QMS/QMS with an ORC : Silicon as the Matrix of Calibrating Solutions and the Internal Standard for Measurement
著者・編者: Yanbei ZHU
著者標目: Yanbei ZHU
タイトル（掲載誌）: Analytical Sciences
巻号年月日等（掲載誌）: 32(11)=294(Special Issue):2016.11
掲載巻: 32
掲載号: 11
掲載通号: 294Special Issue
掲載ページ: 1237-1243
掲載年月日（W3CDTF）: 2016-11
ISSN（掲載誌）: 0910-6340
ISSN-L（掲載誌）: 0910-6340
出版事項（掲載誌）: Tokyo : Japan Society for Analytical Chemistry
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: LA-ICP-QMS/QMS
quantitative analysis
trace element
matrix
internal standard
NDLC: ZP4
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z54-F482
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 027714080
http://id.ndl.go.jp/bib/027714080
整理区分コード: 632

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