自立金属ナノ薄膜のその場電界放射走査型電子顕微鏡観察疲労/クリープ強度試験法の開発(特集破壊力学)

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資料種別: 記事
タイトル: 自立金属ナノ薄膜のその場電界放射走査型電子顕微鏡観察疲労/クリープ強度試験法の開発
著者・編者: 近藤俊之
秦彰宏
平方寛之
﨑原雅之
箕島弘二
シリーズタイトル: 特集破壊力学
著者標目: 近藤俊之
秦彰宏
平方寛之
﨑原雅之
箕島弘二
並列タイトル等: Development of In Situ FESEM Fatigue/Creep Experimental Technique for Freestanding Metallic Nano-Films
タイトル（掲載誌）: 材料 / 日本材料学会 [編]
巻号年月日等（掲載誌）: 65(12):2016.12
掲載巻: 65
掲載号: 12
掲載ページ: 869-876
掲載年月日（W3CDTF）: 2016-12
ISSN（掲載誌）: 0514-5163
ISSN-L（掲載誌）: 0514-5163
出版事項（掲載誌）: 京都 : 日本材料学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: Experimental method
Fatigue
Creep
Crack propagation
In situ FESEM observation
Freestanding film
NDLC: ZM16
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-267
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 027805288
http://id.ndl.go.jp/bib/027805288
整理区分コード: 632