記念講演 光音響・発光同時計測及び時間分解発光計測による窒化物半導体の内部量子効率と輻射・非輻射再結合寿命の測定

• 資料種別: 記事
• タイトル: 記念講演 光音響・発光同時計測及び時間分解発光計測による窒化物半導体の内部量子効率と輻射・非輻射再結合寿命の測定
• 著者・編者: 河上 航平; 中納 隆; 山口 敦史
• シリーズタイトル: レーザ・量子エレクトロニクス
• 著者標目: 河上 航平; 中納 隆; 山口 敦史
• 並列タイトル等: Determination of internal quantum efficiency and recombination lifetime by simultaneous photo-acoustic and photoluminescence measurements in GaN
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 116(372):2016.12.16
• 掲載巻: 116
• 掲載号: 372
• 掲載ページ: 15-20
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2016-12-16
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 窒化物半導体; GaN; 光音響測定; 内部量子効率; 時間分解PL測位; 再結合寿命; Nitride semiconductor; Photo-acoustic measurement; IQE; Recombination lifetime
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: LQE2016-99
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 027844096; http://id.ndl.go.jp/bib/027844096
• 整理区分コード: 632