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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
116巻471号 2017年2月24日
記事
Silicon-on...
Silicon-on-insulator MOSデバイスにおける実時間チャージポンピング (電子デバイス)
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Silicon-on-insulator MOSデバイスにおける実時間チャージポンピング
(電子デバイス)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028039228
資料種別
記事
著者
渡辺 時暢ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017-02-24
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116(471):2017.2.24
掲載ページ
p.7-12
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
Silicon-on-insulator MOSデバイスにおける実時間チャージポンピング
著者・編者
渡辺 時暢
堀 匡寛
小野 行徳
シリーズタイトル
電子デバイス
著者標目
渡辺 時暢
堀 匡寛
小野 行徳
並列タイトル等
Time-domain charge pumping on silicon-on-insulator metal-oxide-semiconductor devices
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
116(471):2017.2.24
掲載巻
116
掲載号
471
掲載ページ
7-12
掲載年月日(W3CDTF)
2017-02-24
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
チャージポンピング
実時間
界面欠陥
SOI
charge pumping
time-domain
interface defects
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
ED2016-131
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
028039228
http://id.ndl.go.jp/bib/028039228
整理区分コード
632
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