テンダー領域斜入射小...

テンダー領域斜入射小角X線散乱法によるポリスチレン-b-ポリ(2-ビニルピリジン)薄膜の深さ方向の構造観察 (特集 薄膜・表面・界面の構造と機能(2))

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テンダー領域斜入射小角X線散乱法によるポリスチレン-b-ポリ(2-ビニルピリジン)薄膜の深さ方向の構造観察(特集 薄膜・表面・界面の構造と機能(2))

国立国会図書館請求記号
Z17-92
国立国会図書館書誌ID
028080521
資料種別
記事
著者
小川 紘樹ほか
出版者
東京 : 高分子学会
出版年
2017
資料形態
掲載誌名
高分子論文集 = Japanese journal of polymer science and technology 74(2):2017
掲載ページ
p.109-113
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
小川 紘樹
辻岡 宏太
竹中 幹人
神谷 和孝
杉山 武晴
金谷 利治
高原 淳
並列タイトル等
Depth-Dependent Structural Analyses in PS-b-P2VP Thin Films as Revealed by Grazing Incidence Small Angle Scattering in the Tender Energy Region
タイトル(掲載誌)
高分子論文集 = Japanese journal of polymer science and technology
巻号年月日等(掲載誌)
74(2):2017
掲載巻
74
掲載号
2