招待講演 テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法

• 資料種別: 記事
• タイトル: 招待講演 テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法
• 著者・編者: 水野 麻弥; 飯田 仁志; 木下 基; 福永 香; 島田 洋蔵; 大谷 知行
• シリーズタイトル: マイクロ波・ミリ波フォトニクス ; 光・電波ワークショップ
• 著者標目: 水野 麻弥; 飯田 仁志; 木下 基; 福永 香; 島田 洋蔵; 大谷 知行
• 並列タイトル等: Precision Inspection of Dielectric Constant Measurement Using Terahertz Time-domain Spectroscopy System and Its Application
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 117(143):2017.7.20・21
• 掲載巻: 117
• 掲載号: 143
• 掲載ページ: 11-16
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2017-07
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: テラヘルツ時間領域分光システム; 複素誘電率; 測定精度; Terahertz Time-domain Spectrometer; Complex Dielectric Constant Measurement; Presision Inspection
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: MWP2017-10
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028446400; http://id.ndl.go.jp/bib/028446400
• 整理区分コード: 632