波長掃引帯域の変動への適応によるSS-OCT膜厚計測値変動の抑制 (レーザ・量子エレクトロニクス)

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波長掃引帯域の変動への適応によるSS-OCT膜厚計測値変動の抑制

(レーザ・量子エレクトロニクス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028509384
資料種別
記事
著者
上野 雅浩ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(195):2017.8.31・9.1
掲載ページ
p.11-16
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
上野 雅浩
坂本 尊
豊田 誠治
佐々木 雄三
山口 城治
阪本 匡
藤本 正俊
山田 真広
菅井 栄一
小平 徹
並列タイトル等
Suppression of SS-OCT Thickness Measurement Value Drift by Adaptation to Central Wavelength Shift of Sweep Range
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
117(195):2017.8.31・9.1
掲載巻
117
掲載号
195