ケルビンプローブフォ...

ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの局所電位評価 (小特集 ポテンシャルイメージング)

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ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの局所電位評価(小特集 ポテンシャルイメージング)

国立国会図書館請求記号
Z16-474
国立国会図書館書誌ID
028602903
資料種別
記事
著者
小林 圭ほか
出版者
東京 : 日本真空協会
出版年
2017-10
資料形態
掲載誌名
Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空 60(10):2017.10
掲載ページ
p.392-396
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
小林 圭
山田 啓文
並列タイトル等
Surface Potential Measurements of Organic Thin-Film Transistors by Kelvin-Probe Force Microscopy
タイトル(掲載誌)
Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空
巻号年月日等(掲載誌)
60(10):2017.10
掲載巻
60
掲載号
10