ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの局所電位評価(小特集 ポテンシャルイメージング)

• 資料種別: 記事
• タイトル: ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの局所電位評価
• 著者・編者: 小林 圭; 山田 啓文
• シリーズタイトル: 小特集 ポテンシャルイメージング
• 著者標目: 小林 圭; 山田 啓文
• 並列タイトル等: Surface Potential Measurements of Organic Thin-Film Transistors by Kelvin-Probe Force Microscopy
• タイトル（掲載誌）: Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空
• 巻号年月日等（掲載誌）: 60(10):2017.10
• 掲載巻: 60
• 掲載号: 10
• 掲載ページ: 392-396
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2017-10
• ISSN（掲載誌）: 1882-2398
• ISSN-L（掲載誌）: 1882-2398
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本真空協会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN15
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-474
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028602903; http://id.ndl.go.jp/bib/028602903
• 整理区分コード: 632