雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号117(242)-117(246):2017.10.19-2017.10.20
記事電磁界解析及び実測に...

電磁界解析及び実測に基づくSiCパワーモジュール配線の寄生インダクタンス評価に関する一検討 (マイクロ波)

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電磁界解析及び実測に基づくSiCパワーモジュール配線の寄生インダクタンス評価に関する一検討

(マイクロ波)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028640140
資料種別
記事
著者
増田 瑛介ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017-10
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(244):2017.10.19・20
掲載ページ
p.23-28
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紙

資料種別
記事
タイトル
電磁界解析及び実測に基づくSiCパワーモジュール配線の寄生インダクタンス評価に関する一検討
著者・編者
増田 瑛介
井渕 貴章
舟木 剛
大嶽 浩隆
宮崎 達也
金武 康雄
澤井 泰
中村 孝
シリーズタイトル
マイクロ波
著者標目
増田 瑛介
井渕 貴章
舟木 剛
大嶽 浩隆
宮崎 達也
金武 康雄
澤井 泰
中村 孝
並列タイトル等
Evaluation on parasitic inductance of SiC power module wiring based on electromagnetic analysis and measurement
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
117(244):2017.10.19・20
掲載巻
117
掲載号
244