A Method for Evaluating Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism : Minimal Sliding Amplitudes against Input Waveforms(3) (機構デバイス)

A Method for Evaluating Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism : Minimal Sliding Amplitudes against Input Waveforms(3)

(機構デバイス)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 028699536

資料種別: 記事

著者: Shin-ichi WADAほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2017-11-17

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(312):2017.11.17

掲載ページ: p.7-12

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紙

資料種別: 記事
タイトル: A Method for Evaluating Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism : Minimal Sliding Amplitudes against Input Waveforms(3)
著者・編者: Shin-ichi WADA
Keiji KOSHIDA
Koichiro SAWA
シリーズタイトル: 機構デバイス
著者標目: Shin-ichi WADA
Keiji KOSHIDA
Koichiro SAWA
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 117(312):2017.11.17
掲載巻: 117
掲載号: 312
掲載ページ: 7-12
掲載年月日（W3CDTF）: 2017-11-17
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: electrical contact
micro-sliding mechanism
frictional force
minimal sliding amplitude
input waveform
rising or falling time
flat time
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: EMD2017-44
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 028699536
http://id.ndl.go.jp/bib/028699536
整理区分コード: 632