真空遮断器における接点損傷の投入電流依存性

• 資料種別: 記事
• タイトル: 真空遮断器における接点損傷の投入電流依存性
• 著者・編者: 道念 大樹; 高井 雄一; 越智 聡
• シリーズタイトル: 放電 開閉保護 高電圧 合同研究会・雷および高電圧・開閉保護・放電技術全般
• 著者標目: 道念 大樹; 高井 雄一; 越智 聡
• 並列タイトル等: Breakdown Electric Field between Damaged Contact with Making Current in Vacuum Interrupter
• タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. SP = The papers of technical meeting on switching and protecting engineering, IEE Japan / 開閉保護研究会 [編]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2017(48-57・59-65):2017.11.17
• 掲載巻: 2017
• 掲載号: 48-57・59-65
• 掲載ページ: 13-18
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2017-11-17
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 真空遮断器; 進み小電流遮断; 投入電流; 絶縁破壊電界; Vacuum interrupter; Capacitive current switching; Making current; Breakdown electric field
• NDLC: ZN32
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: SP-17-50
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z43-244
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028712455; http://id.ndl.go.jp/bib/028712455
• 整理区分コード: 632