Improved transformation of φ-divergence goodness-of-fit test statistics based on minimum φ*-divergence estimator for GLIM of binary data

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Improved transformation of φ-divergence goodness-of-fit test statistics based on minimum φ*-divergence estimator for GLIM of binary data

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資料種別: 記事
タイトル: Improved transformation of φ-divergence goodness-of-fit test statistics based on minimum φ*-divergence estimator for GLIM of binary data
著者・編者: Nobuhiro Taneichi
Yuri Sekiya
Jun Toyama
著者標目: Nobuhiro Taneichi
Yuri Sekiya
Jun Toyama
タイトル（掲載誌）: SUT journal of Mathematics
巻号年月日等（掲載誌）: 52(2):2016
掲載巻: 52
掲載号: 2
掲載ページ: 193-214
掲載年月日（W3CDTF）: 2016
ISSN（掲載誌）: 0916-5746
ISSN-L（掲載誌）: 0916-5746
出版事項（掲載誌）: Tokyo : Tokyo University of Science
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: Asymptotic expansion
binary data
φ-divergence statistics
generalized linear model
improved transformation
minimum φ*-divergence estimator
NDLC: ZM31
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z53-T381
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 028767158
http://id.ndl.go.jp/bib/028767158
整理区分コード: 632