Effect of Thermal Cycles on Microstructure of Er₂O₃ Thin Film on SUS316 Substrate with Y₂O₃ Buffer Layer Fabricated by MOCVD Method(Special Issue on Kinetics and Phase Relationships for Microstructure Evolution in Metals and Alloys)

• 資料種別: 記事
• タイトル: Effect of Thermal Cycles on Microstructure of Er₂O₃ Thin Film on SUS316 Substrate with Y₂O₃ Buffer Layer Fabricated by MOCVD Method
• 著者・編者: Masaki Tanaka; Seungwon Lee; Kenji Matsuda; Yoshimitsu Hishinuma; Katsuhiko Nishimura; Teruya Tanaka; Takeo Muroga
• シリーズタイトル: Special Issue on Kinetics and Phase Relationships for Microstructure Evolution in Metals and Alloys
• 著者標目: Masaki Tanaka; Seungwon Lee; Kenji Matsuda; Yoshimitsu Hishinuma; Katsuhiko Nishimura; Teruya Tanaka; Takeo Muroga
• タイトル（掲載誌）: Materials transactions
• 巻号年月日等（掲載誌）: 59(2):2018.2
• 掲載巻: 59
• 掲載号: 2
• 掲載ページ: 176-181
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2018-02
• ISSN（掲載誌）: 1345-9678
• ISSN-L（掲載誌）: 1345-9678
• 出版事項（掲載誌）: Sendai : The Japan Institute of Metals and Materials ; 2001-
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: erbia; yittria; microstructure; transmission electron microscopy
• NDLC: ZP41
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z53-J286
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028792771; http://id.ndl.go.jp/bib/028792771
• 整理区分コード: 632