Robust 3D Planes Detection under Noisy Conditions Using Scaled Difference of Normals (Special Issue on IEVC2017)

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CiNii Research

Robust 3D Planes Detection under Noisy Conditions Using Scaled Difference of Normals(Special Issue on IEVC2017)

掲載誌名: IIEEJ transactions on image electronics and visual computing 5(2):2017

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資料種別: 記事
タイトル: Robust 3D Planes Detection under Noisy Conditions Using Scaled Difference of Normals
著者・編者: Jaime SANDOVAL
Kazuma UENISHI
Munetoshi IWAKIRI
Kiyoshi TANAKA
シリーズタイトル: Special Issue on IEVC2017
著者標目: Jaime SANDOVAL
Kazuma UENISHI
Munetoshi IWAKIRI
Kiyoshi TANAKA
タイトル（掲載誌）: IIEEJ transactions on image electronics and visual computing
巻号年月日等（掲載誌）: 5(2):2017
掲載巻: 5
掲載号: 2
掲載ページ: 60-73
掲載年月日（W3CDTF）: 2017
ISSN（掲載誌）: 2188-191X
ISSN-L（掲載誌）: 2188-191X
出版事項（掲載誌）: Tokyo : The Institute of Image Electronics Engineers of Japan
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: 3D point clouds
planes detection
model fitting
Hough transform
RANSAC
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YH247-1364
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 028895452
http://id.ndl.go.jp/bib/028895452
整理区分コード: 632