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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号118(1)-118(18):2018.4.6-2018.4.27 (Web掲載118(4-8),118(12),118(16-17),118(19-23))
記事3D-TLC NAN...

3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおける水平エラー検出と垂直LDPC符号を用いた高信頼化手法 (集積回路)

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3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおける水平エラー検出と垂直LDPC符号を用いた高信頼化手法

(集積回路)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028976368
資料種別
記事
著者
鈴木 峻ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2018-04
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(10):2018.4.19・20
掲載ページ
p.1-6
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紙

資料種別
記事
タイトル
3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおける水平エラー検出と垂直LDPC符号を用いた高信頼化手法
著者・編者
鈴木 峻
出口 慶明
中村 俊貴
溝口 恭史
竹内 健
シリーズタイトル
集積回路
著者標目
鈴木 峻
出口 慶明
中村 俊貴
溝口 恭史
竹内 健
並列タイトル等
Reliability Enhancement Technique with Horizontal Error Detection and Vertical-LDPC in 3D-TLC NAND Flash Memories
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
118(10):2018.4.19・20
掲載巻
118
掲載号
10