過渡熱解析による3次...

過渡熱解析による3次元積層IC内のアンダーフィル層の熱抵抗の評価 (Mate2018特集号 : 第24回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム)

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過渡熱解析による3次元積層IC内のアンダーフィル層の熱抵抗の評価(Mate2018特集号 : 第24回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム)

国立国会図書館請求記号
Z74-H317
国立国会図書館書誌ID
029175391
資料種別
記事
著者
佐々木 真ほか
出版者
大阪 : 高温学会
出版年
2018-07
資料形態
掲載誌名
スマートプロセス学会誌 = Journal of smart processing 7(4):2018.7
掲載ページ
p.122-127
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
佐々木 真
菊池 遼
酒井 泰治
作山 誠樹
並列タイトル等
Evaluation of Thermal Resistance for Underfill Layer in Three-dimensional Stacked ICs by Transient Thermal Analysis
タイトル(掲載誌)
スマートプロセス学会誌 = Journal of smart processing
巻号年月日等(掲載誌)
7(4):2018.7
掲載巻
7
掲載号
4