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高解像度走査型プロー...

高解像度走査型プローブ顕微鏡による炭素材料の評価 (特集 炭素の最新分析技術)

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高解像度走査型プローブ顕微鏡による炭素材料の評価(特集 炭素の最新分析技術)

国立国会図書館請求記号
Z17-230
国立国会図書館書誌ID
029375621
資料種別
記事
著者
清水 智子
出版者
東京 : 炭素材料学会
出版年
2018
資料形態
掲載誌名
炭素 / 炭素材料学会 編 (285):2018
掲載ページ
p.204-209
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
清水 智子
シリーズタイトル
著者標目
並列タイトル等
Characterization of carbon materials using high-resolution scanning probe microscopy
タイトル(掲載誌)
炭素 / 炭素材料学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
(285):2018
掲載号
285
掲載ページ
204-209