SiCパワーデバイスを対象とした繰り返しUIS試験による特性評価

• 資料種別: 記事
• タイトル: SiCパワーデバイスを対象とした繰り返しUIS試験による特性評価
• 著者・編者: 相良 光彦; 和田 圭二; 西澤 伸一
• シリーズタイトル: 電子デバイス 半導体電力変換合同研究会・パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術
• 著者標目: 相良 光彦; 和田 圭二; 西澤 伸一
• 並列タイトル等: Experimental evaluation using repetitive UIS test for SiC power devices
• タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. SPC = The papers of technical meeting on semiconductor power converter, IEE Japan / 半導体電力変換研究会 [編]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2018(143-146・148-154):2018.11.1
• 掲載巻: 2018
• 掲載号: 143-146・148-154
• 掲載ページ: 19-24
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2018-11-01
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 繰り返しUIS実験; パワーデバイス評価; SiC素子; Repetitive UIS test; Evaluation of power device; SiC device
• NDLC: ZN32
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: SPC-18-148
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z43-243
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 029390774; http://id.ndl.go.jp/bib/029390774
• 整理区分コード: 632