雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号118(334):2018.12.5-7
記事自動生成パターンの微...

自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討 (VLSI設計技術 ; デザインガイア2018 : VLSI設計の新しい大地)

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自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討

(VLSI設計技術 ; デザインガイア2018 : VLSI設計の新しい大地)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
029437567
資料種別
記事
著者
谷口 公貴ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2018-12
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(334):2018.12.5-7
掲載ページ
p.131-136
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紙

資料種別
記事
タイトル
自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討
著者・編者
谷口 公貴
四柳 浩之
橋爪 正樹
シリーズタイトル
VLSI設計技術 ; デザインガイア2018 : VLSI設計の新しい大地
著者標目
谷口 公貴
四柳 浩之
橋爪 正樹
並列タイトル等
Study on the Applicability of ATPG Pattern for DFT Circuit
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
118(334):2018.12.5-7
掲載巻
118
掲載号
334