Optimal pattern Discovery to Reveal the High Yield Inhibition Factor of Soybeans

掲載誌名: Journal of the Institute of Industrial Applications Engineers 6(2):2018.4

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資料種別: 記事
タイトル: Optimal pattern Discovery to Reveal the High Yield Inhibition Factor of Soybeans
著者・編者: MIDORI NAMBA
KOHEI UMEJIMA
RYO NISHIDE
TAKENAO OHKAWA
SEIICHI OZAWA
NORIYUKI MURAKAMI
HIROYUKI TSUJI
著者標目: MIDORI NAMBA
KOHEI UMEJIMA
RYO NISHIDE
TAKENAO OHKAWA
SEIICHI OZAWA
NORIYUKI MURAKAMI
HIROYUKI TSUJI
タイトル（掲載誌）: Journal of the Institute of Industrial Applications Engineers
巻号年月日等（掲載誌）: 6(2):2018.4
掲載巻: 6
掲載号: 2
掲載ページ: 66-72
掲載年月日（W3CDTF）: 2018-04
ISSN（掲載誌）: 2188-1758
ISSN-L（掲載誌）: 2187-8811
出版事項（掲載誌）: [北九州] : The Institute of Industrial Applications Engineers
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: Optimal pattern
Soybean
Knowledge discovery
NDLC: ZM5
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z78-A852
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 029492230
http://id.ndl.go.jp/bib/029492230
整理区分コード: 632