An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults (VLSI設計技術)

An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults

(VLSI設計技術)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 029501194

資料種別: 記事

著者: 王培坤ほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2019-01

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(430):2019.1.30・31

掲載ページ: p.13-18

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紙

資料種別: 記事
タイトル: An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults
著者・編者: 王培坤
ガラバギアミルマサウド
藤田昌宏
シリーズタイトル: VLSI設計技術
著者標目: 王培坤
ガラバギアミルマサウド
藤田昌宏
並列タイトル等: 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法タジュウシュクタイコショウヨウインクリメンタルテストパターンジドウセイシュホウ
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 118(430):2019.1.30・31
掲載巻: 118
掲載号: 430
掲載ページ: 13-18
掲載年月日（W3CDTF）: 2019-01
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: Incremental ATPG method
multiple stuck-at faults
undetected faults
fault selection
additional test patterns
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: VLD2018-74
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 029501194
http://id.ndl.go.jp/bib/029501194
整理区分コード: 632