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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 金子 卓史神田 隆行東 尚希薬丸 昇坂口 真司藤原 優池本 裕土屋 英晴
- 並列タイトル等
- An Analytical Method and the Case Studies of ESD-Induced Failure of IGBT
- タイトル（掲載誌）
- 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 26:2018.6.4
- 掲載巻
- 26
- 掲載ページ
- 43-46
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2018-06-04