精密質量分析を用いた界面活性剤スクリーニング法の開発と法化学への応用

• 資料種別: 記事
• タイトル: 精密質量分析を用いた界面活性剤スクリーニング法の開発と法化学への応用
• 著者・編者: 中野 史保子; 鎌田 寛恵; 佐々木 啓子; 志摩 典明; 鎌田 徹; 松田 駿太朗; 掛橋 秀直; 西岡 裕; 三木 昭宏; 土橋 均; 片木 宗弘
• 著者標目: 中野 史保子; 鎌田 寛恵; 佐々木 啓子; 志摩 典明; 鎌田 徹; 松田 駿太朗; 掛橋 秀直; 西岡 裕; 三木 昭宏; 土橋 均; 片木 宗弘
• 並列タイトル等: Development of the Exact Mass Database of Surfactants and Its Forensic Application
• タイトル（掲載誌）: Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan = 質量分析
• 巻号年月日等（掲載誌）: 67(2)=314:2019.4
• 掲載巻: 67
• 掲載号: 2
• 掲載通号: 314
• 掲載ページ: 53-63
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2019-04
• ISSN（掲載誌）: 1340-8097
• ISSN-L（掲載誌）: 1340-8097
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本質量分析学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Exact mass database; Surfactant; Screening; LC/TOF-MS
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-213
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 029656411; http://id.ndl.go.jp/bib/029656411
• 整理区分コード: 632