宇宙線起因中性子によるパワーデバイスのシングルイベントバーンアウト評価

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宇宙線起因中性子によるパワーデバイスのシングルイベントバーンアウト評価

国立国会図書館請求記号
Z74-J487
国立国会図書館書誌ID
029790254
資料種別
記事
著者
浅井 弘彰ほか
出版者
東京 : 日本信頼性学会
出版年
2019-05-31
資料形態
掲載誌名
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability 27:2019.5.31
掲載ページ
p.37-40
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
浅井 弘彰
緑川 正彦
飯出 芳弥
谷 幸一
杉本 憲治
並列タイトル等
Evaluation of Terrestrial Neutron-Induced Single-Event Burnout in Power Devices
タイトル(掲載誌)
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability
巻号年月日等(掲載誌)
27:2019.5.31
掲載巻
27
掲載ページ
37-40
掲載年月日(W3CDTF)
2019-05-31