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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 遠藤 幸一中村 共則茅根 慎通松本 徹中前 幸治
- 並列タイトル等
- Sub-microsecond Observation of Photoemission from Avalanche Breakdown of the Insulated Gate Bipolar Transistor
- タイトル（掲載誌）
- 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 27:2019.5.31
- 掲載巻
- 27
- 掲載ページ
- 47-50
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2019-05-31