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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 山﨑 順
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Precise analysis of electron beam transmission using high-voltage electron microscopy
- タイトル（掲載誌）
- 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- (47):2018年度
- 掲載号
- 47
- 掲載ページ
- 7-14
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2018