LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価

国立国会図書館請求記号: YH247-1047
国立国会図書館書誌ID: 029911817

資料種別: 記事

著者: 月本功ほか

出版者: [高松] : 香川高等専門学校

出版年: 2019-06

資料形態: デジタル

掲載誌名: 香川高等専門学校研究紀要 = The bulletin of Kagawa National College of Technology (10):2019.6

掲載ページ: p.107-111

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デジタル

資料種別: 記事
タイトル: LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価
著者・編者: 月本功
安藤健太
須崎晴登
著者標目: 月本功
安藤健太
須崎晴登
並列タイトル等: Evaluation of Detectability for Resistive Open Fault on Soldered LSI by Supply Current Test Method
タイトル（掲載誌）: 香川高等専門学校研究紀要 = The bulletin of Kagawa National College of Technology
巻号年月日等（掲載誌）: (10):2019.6
掲載号: 10
掲載ページ: 107-111
掲載年月日（W3CDTF）: 2019-06
ISSN（掲載誌）: 2185-2391
ISSN-L（掲載誌）: 2185-2391
出版事項（掲載誌）: [高松] : 香川高等専門学校
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: Fault Detection
Resistive Open
Supply Current
Detectability
NDLC: ZV1
対象利用者: 一般
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00033
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否（NDL）: 不可
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YH247-1047
関連情報（URI）: https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12318967
関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/12318967
https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12318967
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 029911817
http://id.ndl.go.jp/bib/029911817
整理区分コード: 632