高SN比CMOS吸光イメージセンサによる半導体プロセスチャンバー内ガス濃度分布計測 (シリコン材料・デバイス)

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高SN比CMOS吸光イメージセンサによる半導体プロセスチャンバー内ガス濃度分布計測

(シリコン材料・デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
030074212
資料種別
記事
著者
髙橋 圭吾ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2019-10
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119(239):2019.10.23・24
掲載ページ
p.65-68
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
髙橋 圭吾
Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva
黒田 理人
藤原 康行
村田 真麻
石井 秀和
森本 達郎
諏訪 智之
寺本 章伸
須川 成利
シリーズタイトル
並列タイトル等
Gas concentration distribution measurement in semiconductor process chamber using a high SNR CMOS absorption image sensor
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
119(239):2019.10.23・24
掲載巻
119
掲載号
239