招待講演 界面顕微光応答法による金属/半導体、半導体/半導体界面の2次元評価

• 資料種別: 記事
• タイトル: 招待講演 界面顕微光応答法による金属/半導体、半導体/半導体界面の2次元評価
• 著者・編者: 塩島 謙次
• シリーズタイトル: 電子部品・材料
• 著者標目: 塩島 謙次
• 並列タイトル等: Mapping of Metal/Semiconductor and Semiconductor/Semiconductor Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 119(271):2019.11.7・8
• 掲載巻: 119
• 掲載号: 271
• 掲載ページ: 35-38
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2019-11
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: ワイドバンドギャップ半導体; ショットキー電極; 界面顕微光応答法; 2次元評価; wide-bandgap semiconductor; Schottky contact; scanning internal photoemission microscopy; 2-dimentional characterization
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: CPM2019-51
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030129228; http://id.ndl.go.jp/bib/030129228
• 整理区分コード: 632