超伝導X線検出器を搭載した走査電子顕微鏡の開発と構造材料分析への応用(特集 新材料開発を支える先端計測拠点 : 未活用情報の取得が拓く構造材料イノベーション)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 超伝導X線検出器を搭載した走査電子顕微鏡の開発と構造材料分析への応用
• 著者・編者: 藤井 剛; 志岐 成友; 浮辺 雅宏; 大久保 雅隆
• シリーズタイトル: 特集 新材料開発を支える先端計測拠点 : 未活用情報の取得が拓く構造材料イノベーション
• 著者標目: 藤井 剛; 志岐 成友; 浮辺 雅宏; 大久保 雅隆
• 並列タイトル等: Development and Application of SEM-EDS Analyzer Utilizing Superconducting X-ray Detector
• タイトル（掲載誌）: 精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering / 会誌編集委員会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 86(3)=1023:2020.3
• 掲載巻: 86
• 掲載号: 3
• 掲載通号: 1023
• 掲載ページ: 197-200
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2020-03
• ISSN（掲載誌）: 0912-0289
• ISSN-L（掲載誌）: 0912-0289
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 精密工学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: superconducting X-ray detector; SEM-EDS; light element; structural materials; soft X-ray; heat resistant steel; superconducting tunnel junction
• NDLC: ZN12
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-466
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030303243; http://id.ndl.go.jp/bib/030303243
• 整理区分コード: 632