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Lexical Frequency Profiling of High-Stakes English Tests : Text Coverage of Cambridge First, EIKEN, GTEC, IELTS, TEAP, TOEFL, and TOEIC

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Lexical Frequency Profiling of High-Stakes English Tests : Text Coverage of Cambridge First, EIKEN, GTEC, IELTS, TEAP, TOEFL, and TOEIC

国立国会図書館請求記号
Z7-533
国立国会図書館書誌ID
030505850
資料種別
記事
著者
KANEKO Masaya
出版者
東京 : 大学英語教育学会
出版年
2020
資料形態
掲載誌名
Jacet journal = 大学英語教育学会紀要 / 大学英語教育学会 編 (64):2020
掲載ページ
p.79-93
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
KANEKO Masaya
著者標目
タイトル(掲載誌)
Jacet journal = 大学英語教育学会紀要 / 大学英語教育学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
(64):2020
掲載号
64
掲載ページ
79-93
掲載年月日(W3CDTF)
2020
ISSN(掲載誌)
0285-8673