マイクロ流体デバイス内の電流密度解析に基づいた経上皮電気抵抗測定用電極の設計法

• 資料種別: 記事
• タイトル: マイクロ流体デバイス内の電流密度解析に基づいた経上皮電気抵抗測定用電極の設計法
• 著者・編者: 宮崎 貴史; 平井 義和; 亀井 謙一郎; 土屋 智由; 田畑 修
• 著者標目: 宮崎 貴史; 平井 義和; 亀井 謙一郎; 土屋 智由; 田畑 修
• 並列タイトル等: Design Strategy of Electrode Patterns Based on Finite Element Analysis in Microfluidic Device for Trans-Epithelial Electrical Resistance (TEER) Measurement
• タイトル（掲載誌）: 電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン部門誌 = IEEJ transactions on sensors and micromachines
• 巻号年月日等（掲載誌）: 140(10):2020.10
• 掲載巻: 140
• 掲載号: 10
• 掲載ページ: 285-292
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2020-10
• ISSN（掲載誌）: 1341-8939
• ISSN-L（掲載誌）: 1341-8939
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 経上皮電気抵抗 (TEER); マイクロ流体デバイス; 有限要素法 (FEM); 電流密度; trans-epithelial electrical resistance (TEER); microfluidic device; finite element method (FEM); current density
• NDLC: ZN31
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-B380
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030688666; http://id.ndl.go.jp/bib/030688666
• 整理区分コード: 632